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  • 光譜隨偏儀

    光譜橢偏(pian)儀是一(yi)種用于探測薄膜厚度、光學常數以(yi)及材料微結(jie)構的光學測量設(she)備。由于與樣品非接觸(chu),對樣品沒有破壞且不需要真空,使(shi)得(de)橢偏(pian)儀成(cheng)為(wei)一(yi)種吸引力(li)的測量設(she)備。

    更新時間:2023-11-19

    廠商性質:生產廠家

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