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高(gao)(gao)低溫濕熱實(shi)驗箱主要(yao)(yao)用(yong)于對產(chan)品按照國(guo)家標準要(yao)(yao)求(qiu)或(huo)用(yong)戶(hu)自(zi)定要(yao)(yao)求(qiu)，在低溫、高(gao)(gao)溫、高(gao)(gao)溫高(gao)(gao)濕條件下，對產(chan)品的物(wu)理以及(ji)其他相關特(te)性進行環境模擬測試(shi)，測試(shi)后，通過檢(jian)測，來(lai)判斷產(chan)品的性能。

高(gao)低(di)(di)溫(wen)交變(bian)試驗(yan)箱是航空、汽(qi)車、家電(dian)(dian)、科(ke)研等領域(yu)*的測試設備，用(yong)于測試和確定電(dian)(dian)工、電(dian)(dian)子(zi)及其他(ta)產品及材(cai)料進行高(gao)溫(wen)、低(di)(di)溫(wen)、交變(bian)溫(wen)度(du)(du)或(huo)恒定試驗(yan)的溫(wen)度(du)(du)環境變(bian)化后的參數及性能

光(guang)(guang)伏(fu)(fu)組件(jian)(jian)(jian)濕熱(re)試驗箱主(zhu)要是單晶硅(gui)組件(jian)(jian)(jian)，地(di)面用晶體(ti)硅(gui)光(guang)(guang)伏(fu)(fu)組件(jian)(jian)(jian)，地(di)面用薄膜光(guang)(guang)伏(fu)(fu)組件(jian)(jian)(jian)等一系列的關伏(fu)(fu)件(jian)(jian)(jian)進行高溫(wen)、低溫(wen)、交變濕熱(re)度或恒定(ding)試驗的溫(wen)度環(huan)境變化(hua)后的參數及性能(neng)

用(yong)于測試(shi)光(guang)伏(fu)組件(jian)，主要是單晶硅組件(jian)，地面用(yong)晶體硅光(guang)伏(fu)組件(jian)，地面用(yong)薄膜光(guang)伏(fu)組件(jian)等(deng)一(yi)系列的(de)光(guang)伏(fu)組件(jian)進行紫外光(guang)加(jia)速耐候試(shi)驗可以再現(xian)陽(yang)光(guang)所產生的(de)破壞(huai)。

光伏(fu)組(zu)件(jian)溫濕度(du)循環(huan)試驗(yan)箱用于(yu)測試光伏(fu)組(zu)件(jian)，主(zhu)要是(shi)單晶(jing)硅(gui)組(zu)件(jian)，地面用晶(jing)體硅(gui)光伏(fu)組(zu)件(jian)，地面用薄膜光伏(fu)組(zu)件(jian)等一系列的(de)關(guan)伏(fu)件(jian)進行高溫、低溫、交(jiao)變(bian)濕熱(re)度(du)或恒定試驗(yan)的(de)溫度(du)環(huan)境變(bian)化后的(de)參數及(ji)性能(neng)