紫外光加速耐候(hou)試驗(yan)機可以(yi)再現陽光、雨水(shui)和露水(shui)所產(chan)生(sheng)的破(po)壞。設(she)備通(tong)過將待測(ce)材(cai)料曝曬放(fang)在經過控(kong)制(zhi)的陽光和濕氣(qi)的交互循環(huan)中,同(tong)時(shi)提(ti)高(gao)溫度(du)的方式來進行試驗(yan)。設(she)備采用紫外線熒光燈模(mo)擬(ni)陽光,同(tong)時(shi)還可以(yi)通(tong)過冷(leng)凝(ning)或噴淋的方式模(mo)擬(ni)濕氣(qi)影響。是航空、汽車(che)、家(jia)電、科研等領域(yu)*的測(ce)試設(she)備,適用于學校(xiao),工(gong)廠,軍(jun)工(gong),研位,等單位。
更新時間:2023-11-18
廠商性質:生(sheng)產廠(chang)家(jia)
紫外(wai)光(guang)加(jia)速耐候試(shi)驗機可以再現(xian)陽光(guang)、雨水和露(lu)水所產生的破壞。設(she)備(bei)(bei)通過(guo)將(jiang)待測(ce)材料曝(pu)曬放在經過(guo)控制的陽光(guang)和濕(shi)氣的交互循環中,同(tong)時提高溫度的方(fang)式來進行試(shi)驗。設(she)備(bei)(bei)采用紫外(wai)線熒光(guang)燈(deng)模擬(ni)陽光(guang),同(tong)時還可以通過(guo)冷凝或噴淋的方(fang)式模擬(ni)濕(shi)氣影響。是航空、汽車、家電、科研等領域*的測(ce)試(shi)設(she)備(bei)(bei),適(shi)用于學校,工廠,軍(jun)工,研位,等單位。
更新時間:2023-11-18
廠商性質:生產(chan)廠家
二氧化(hua)(hua)硫(liu)試驗(yan)設備利用二氧化(hua)(hua)硫(liu)氣體,在一定的溫(wen)度和相(xiang)對的濕度的環境下對材(cai)料或(huo)產品(pin)進行加速腐(fu)蝕,重(zhong)現材(cai)料或(huo)產品(pin)在一定時間范圍(wei)內所(suo)遭受的破壞程(cheng)度。以及(ji)(ji)相(xiang)似(si)防護(hu)層的工藝質量(liang)比較(jiao),零部(bu)件(jian)、電(dian)子元件(jian)、金屬材(cai)料、電(dian)工,電(dian)子等(deng)產品(pin)的防護(hu)層以及(ji)(ji)工業(ye)產品(pin)的抗(kang)二氧化(hua)(hua)硫(liu)腐(fu)蝕的能(neng)力。
更新時間:2023-11-18
廠商性質:生產廠家
加速(su)老(lao)化(hua)試(shi)驗(yan)(yan)箱適用于電(dian)(dian)子(zi)連(lian)接(jie)器(qi)、半(ban)導體IC、晶體管、二極管、液(ye)晶LCD、芯片電(dian)(dian)阻電(dian)(dian)容、零組件(jian)產(chan)業電(dian)(dian)子(zi)零組件(jian)金屬接(jie)腳(jiao)沾錫(xi)性試(shi)驗(yan)(yan)前的老(lao)化(hua)加速(su)壽命時間(jian)試(shi)驗(yan)(yan);半(ban)導體、被動(dong)組件(jian)、零件(jian)接(jie)腳(jiao)氧(yang)化(hua)試(shi)驗(yan)(yan)。微電(dian)(dian)腦(nao)溫度(du)(du)(du)控制(zhi)(zhi)器(qi)、LED數字顯示,PID+SSR控制(zhi)(zhi),白金電(dian)(dian)阻溫度(du)(du)(du)傳感器(qi)(PT-100),解析度(du)(du)(du)0.1℃,全(quan)自動(dong)安全(quan)保護(hu)裝置。
更新時間:2023-11-17
廠商性質:生產廠家